Nowy detektor EBIC w mikroskopach firmy TESCAN


Detektory typu EBIC (Electron Beam Induced Current) rozszerzają możliwości badawcze skaningowych mikroskopów elektronowych. Detektory tego typu umożliwiają detekcję prądu indukowanego wiązką skanującą na powierzchni badanych próbek. Nowy detektor firmy TESCAN umożliwia lokalny pomiar prądu (ilościowe obrazowanie EBIC) oraz tworzenie map ilustrujących własmności elektryczne próbek. Detektory EBIC zainstalowane na systemach FIB (Focused Ion Beam) umożliwiają trójwymiarową analizę EBIC. Detektor ten jest dokonałym narzędziem rozszerzającym możliwości analizy materiałów stosowanych min. w elektronice. Detektor jest w pełni zintegrowany z oporgamowaniem mikroskopów skaningowych. Dosepna jest wersja detektora ze stałym kontaktem elektrycznym oraz z ruchomym ostrzem służący do pomiaru indukowanego prądu. Więcej informacji można uzyskać na stronie producenta.


Informacja na stronie producenta