Seminarium: Nowe możliwości w mikroskopii elektronowej i mikrotomografii rentgenowskiej

TECHNOLOGIE ● TRENDY ● TECHNIKI PRZYGOTOWANIA PRÓBEK

Seminarium: Nowe możliwości w mikroskopii elektronowej i mikrotomografii rentgenowskiej

O SEMINARIUM

Zapraszamy do udziału w seminarium poświęconym nowym rozwiązaniom, aktualnym trendom oraz praktycznym zastosowaniom nowoczesnych technik mikroskopowych i tomograficznych.
Podczas spotkania przedstawione zostaną najnowsze możliwości w zakresie mikroskopii elektronowej oraz mikrotomografii rentgenowskiej, a także zagadnienia związane z przygotowaniem próbek technikami jonowymi.

W programie przewidziano:

  • Wykłady poświęcone nowym technologiom, rozwiązaniom i kierunkom rozwoju w dziedzinie SEM, FIB-SEM, mikroanalizy rentgenowskiej EDX, micro-CT
  • Prezentacje możliwości analitycznych współczesnej aparatury badawczej
  • Praktyczne demonstracje i prezentacje technik badawczych
  • Zagadnienia dotyczące przygotowania próbek metodami polerowania jonowego oraz optymalizacji procedur badawczych
  • Możliwość dyskusji i wymiany doświadczeń z ekspertami.

Seminarium będzie okazją do poznania nowych możliwości obrazowania struktury i właściwości materiałów, porównania dostępnych technik oraz wymiany doświadczeń dotyczących przygotowania i analizy próbek.

Wydarzenie organizowane jest przez Uni-Export Instruments Polska we współpracy z Centrum Mikroskopowego Badania Materii UŚ- SPIN-Lab w Chorzowie oraz przy wsparciu merytorycznym firm Tescan a.s. oraz Technoorg Linda Co. Ltd.

Seminarium: Nowe możliwości w mikroskopii elektronowej i mikrotomografii rentgenowskiej

DLA KOGO?

Wydarzenie skierowane jest do: pracowników naukowych, badaczy i doktorantów prowadzących badania z wykorzystaniem mikroskopii elektronowej i mikrotomografiinaukach przyrodniczych, materiałowych, chemicznych, biologicznych i technicznych.

Jest to także znakomita okazja dla osób rozpoczynających pracę z mikroskopią elektronową (SEM i FIB-SEM) lub mikrotomografią rentgenowską (micro-CT), aby rozszerzyć swoją wiedzę w zakresie przygotowania próbek i analizy wyników.

Zapraszamy także specjalistów zajmujących się przygotowaniem materiału do badań mikroskopowych i mikrotomograficznych, przedstawicieli laboratoriów badawczych, diagnostycznych i przemysłowych wykorzystujących techniki mikroskopii elektronowej i mikrotomografii rentgenowskiej.

Jest to seminarium dla wszystkich osób zainteresowanych możliwościami zastosowania mikroskopii elektronowej i mikrotomografii rentgenowskiej w badaniach naukowych i analizie materiałów. Będzie szczególnie wartościowe dla osób, które chcą poszerzyć praktyczną wiedzę dotyczącą przygotowania próbek, doboru odpowiednich metod preparatyki oraz uzyskiwania wysokiej jakości obrazów i wiarygodnych wyników badań

Seminarium: Nowe możliwości w mikroskopii elektronowej i mikrotomografii rentgenowskiej

SEMINARIUM

29- 30 września 2026

(jeden z dni do wyboru)

SPIN-Lab UŚ, Chorzów

ul. 75 Pułku Piechoty 1A
41-500 Chorzów
Budynek J

Wstęp bezpłatny

(ilość miejsc ograniczona)

Do naszego spotkania zostało:

Dni
Godziny
Minuty
Sekundy
Seminarium: Nowe możliwości w mikroskopii elektronowej i mikrotomografii rentgenowskiej

PROGRAM RAMOWY

Wszystkie dni seminaryjne (29 i 30 września) będą miały dokładnie ten sam program ramowy, który przedstawiony został niżej:

8:00 - 9:00
Rejestracja uczestników i powitalna kawa
9:00 - 9:05
Otwarcie Seminarium i powitanie uczestników | Marcin Libera & Mirosław Fordon
9:05 - 9:15
Od mikro- do nano - badania i infrastruktura SPIN-Lab | Marcin Libera
9:15 - 9:30
Uni-Export Instruments Polska - rozwiązania dla mikroskopii i preparatyki | Mirosław Fordon
9:30 - 10:00
Tescan’s Focused Ion Beam Technology | Jiri Honc / Daniel Wójcik
10:00 - 10:15
X-ray microanalysis by Oxford Instruments | Tomas Bartak
10:15 - 10:30
Wysokorozdzielczy mikroskop skaningowy Tescan CLARA ze zintegrowanym systemem spektroskopii Ramana | Aleksandra Nyga
10:30 - 10:45
Przerwa kawowa
10:45 - 11:15
Micro-CT Systems for 3D and Dynamic 4D Imaging | Michiel Krols
11:15 - 11:45
SEM and TEM sample preparation with Technoorg Linda | Weronika Serafimowicz
11:45 - 12:30
Lunch
12:30 - 14:00
Warsztaty rotacyjne z podziałem na 4 grupy
J. Rajca / Jiri Honc / D. Wójcik / T. Bartak & A. Nyga / W. Serafimowicz
14:00 - 14:15
Przerwa kawowa
14:15 - 15:45
Warsztaty rotacyjne z podziałem na 4 grupy
J. Rajca / Jiri Honc / D. Wójcik / T. Bartak & A. Nyga / W. Serafimowicz
15:45 - 16:00
Dyskusja i zakończenie
Seminarium: Nowe możliwości w mikroskopii elektronowej i mikrotomografii rentgenowskiej

REJESTRACJA

Seminarium: Nowe możliwości w mikroskopii elektronowej i mikrotomografii rentgenowskiej

SKANINGOWA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA

Skaningowy mikroskop elektronowy jest doskonałym narzędziem w analizie własności różnorodnych materiałów. Ta metoda obrazowania umożliwia uzyskiwanie wysokorozdzielczych obrazów obiektów o rozmiarach w zakresie mikrometrów i nanometrów. Mikroskopia elektronowa w stosunku do innych metod (np. mikroskopii optycznej) posiada szereg zalet związanych z tym, że obrazowanie charakteryzuje się dużą głębią ostrości i wysoką rozdzielczością a także możliwością równoczesnej analizy niektórych własności fizyko-chemicznych obserwowanych próbek.

Najważniejsze możliwości skaningowej mikroskopii elektronowej:
  • Precyzyjna obserwacja topografii powierzchni przy powiększeniach od kilku do nawet kilku milionów razy z możliwością rozróżniania obiektów o średnicach poniżej 1 nm;
  • Duża głębia ostrości, dzięki której możliwa jest ocena chropowatości, rozwinięcia powierzchni oraz obrazowanie 3D przy wysokich powiększeniach;
  • Analiza morfologiczna – ocena kształtu, wielkości i dystrybucji elementów tworzących materiał: ziarna, wtrącenia, fazy (obszary o podobnym składzie chemicznym);
  • Analiza składu chemicznego – rozróżnianie pierwiastków i faz, z których składa się badany materiał;
  • Możliwość analizy własności struktur krystalicznych badanych materiałów: kształt i wielkość komórki pierwotnej, obserwacja dyslokacji, wyznaczanie granic ziaren;
  • Możliwość modyfikacji powierzchni poprzez jej selektywne trawienie i modyfikację przy pomocy wiązki elektronów lub jonów;
Seminarium: Nowe możliwości w mikroskopii elektronowej i mikrotomografii rentgenowskiej

MIKROTOMOGRAFIA RENTGENOWSKA

Mikrotomografia rentgenowska (micro-CT, z ang. micro-computed tomography) jest zaawansowaną, nieinwazyjną i nieniszczącą metodą obrazowania umożliwiającą uzyskanie trójwymiarowego obrazu wewnętrznej struktury badanego obiektu. Technika ta wykorzystuje promieniowanie rentgenowskie do rejestracji serii projekcji próbki wykonywanych pod różnymi kątami. Następnie, za pomocą algorytmów rekonstrukcyjnych, tworzony jest szczegółowy model 3D badanego materiału.

Metoda ta jest bardzo zbliżona do powszechnie stosowanej klinicznej tomografii komputerowej stosowanej w diagnostyce obrazowej pacjentów. Jednak w przeciwieństwie do tomografii klinicznej – która wymaga kompromisu pomiędzy dokładnością obrazowania ciała pacjentów a dopuszczalnym, bezpiecznym poziomem radiacji – mikrotomografia komputerowa umożliwia zastosowanie wielokrotnie wyższej zdolności rozdzielczej.

Dzięki bardzo wysokiej rozdzielczości przestrzennej, sięgającej nawet kilkuset nanometrów, mikrotomografia rentgenowska pozwala analizować cechy strukturalne niedostępne dla klasycznych metod obrazowania. Technika ta jest jedną z najważniejszych współczesnych metod obrazowania przestrzennego wykorzystywanych w badaniach naukowych. Dzięki możliwości nieinwazyjnego uzyskiwania wysokorozdzielczych obrazów wnętrza obiektów znajduje zastosowanie w naukach materiałowych, geologii, biologii, medycynie, archeologii i wielu innych dziedzinach. Dynamiczny rozwój technologii obrazowania oraz metod analizy danych sprawia, że znaczenie mikrotomografii rentgenowskiej w badaniach naukowych stale rośnie.

Seminarium: Nowe możliwości w mikroskopii elektronowej i mikrotomografii rentgenowskiej

KONTAKT

Jeżeli masz jakiekolwiek wątpliwości lub pytania, na które nie znalazłeś odpowiedzi na tej stronie, skorzystaj proszę z formularza poniżej, aby skontaktować się z nami bezpośrednio.

Pamiętaj jednak, że nie jest to formularz zgłoszeniowy– ten możesz znaleźć w zakładce REJESTRACJA.

Email UEIP

Dziękujemy za kontakt z nami!

Osoba odpowiedzialna za ten dział skontaktuje się z Państwem tak szybko, jak będzie to możliwe.

W przypadku bardzo pilnych zapytań, prosimy o kontakt telefoniczny z naszym biurem, pod numerem: +48 22 626 87 86