
Reolaser COATING jest nowoczesnym aparatem przeznaczonym do monitorowania procesu tworzenia się filmu, opartym na całkowicie nowej technologii o nazwie A.S.I.I. wykorzystującej zjawisko dynamicznego rozpraszania światła.
Przy użyciu kamery video zbierany jest obraz powstający w wyniku odbicia światła laserowego oświetlającego próbkę.
Interferencja fal powoduje deformację wzoru „plamek”, a prędkość tej deformacji jest wprost zależna od prędkości poruszania się cząstek w próbce i maleje w trakcie schnięcia i utwardzania.
Częstotliwość zmian obrazu (speckle rate) wyznacza prędkość schnięcia powłoki.
Poprzez obserwację kinetyki schnięcia w czasie rzeczywistym można otrzymać informacje dotyczące:
- obiektywnego czasu schnięcia (zaschnięcie „na dotyk”, całkowite utwardzenie)
- zidentyfikować zachodzące zjawiska (wiązanie chemiczne, parowanie)
- porównać próbki między sobą
Zasada działania
Pierwszy komercyjny instrument oparty na technologii MS-DWS, Rheolaser COATING , umożliwia monitorowanie zmian mikrostruktury podczas procesu tworzenia filmu. Określa mechanizmy suszenia i charakterystyczne czasy schnięcia na dowolnym podłożu, dowolnej grubości. Działa w odniesieniu do wszelkiego rodzaju powłokotwórczych produktach, takich jak farby, tusze, lakiery, żywice, spoiwa, produkty kosmetyczne …
Aby obliczyć prędkość deformacji wzoru plamek i wykreślić zależność zmiany w funkcji czasu pozyskuje się kolejne obrazy za pomocą kamery wideo.
Obrazy plamek są następnie przetwarzane w celu określenia czasu dekorelacji τ korespondującego z odpowiednim zniekształceniem wzoru plamek. Częstotliwość zmian jest przedstawiana jako odwrotność czasu τ, a jeden punkt jest nanoszony na kinetykę.
W czasie tworzenia się filmu zanika ruch cząstek powodujący rozpraszanie światła a więc także prędkość deformacji wzoru plamek. Czas zbierania danych jest stale optymalizowany, aby osiągnąć najlepszy pomiar przy wysokich i niskich prędkościach deformacji, tj. w celu zapewnienia dokładności i szybkości reakcji.

Współczynnik płynięcia
Dzięki unikalnemu i opatentowanemu przetwarzaniu ASII (Adaptive Speckle Image Interferometry), zmiana „współczynnika płynności” w funkcji czasu jest wyświetlana w czasie rzeczywistym, dostarczając szeroki zakres informacji, takich jak:
- Mechanizm tworzenia się filmu
- Charakterystyczne czasy schnięcia

Charakterystyczne czasy schnięcia
Rheolaser COATING daje dostęp do każdego charakterystycznego czasu procesu schnięcia:
- Czas otwarty
- Odporność na kurz
- Zaschniecie na dotyk
Całkowite zaschnięcie

Przemysł kosmetyczny i środków czystości
- prędkość schnięcia lakieru do paznokci
- prędkość schnięcia tuszu do rzęs

Farby i lakiery
- Precyzyjne wyznaczanie czasu otwartego
- Kontrola czasu odporności na kurz, dotyk, całkowitego zaschnięcia, itd.
- Monitorowanie wpływu dodania dodatków obciążających lub innych
- Farby architektoniczne lub specjalne
- Tusze, atramenty

Chemia ogólna, polimery
- Kontrola schnięcia klejów
- Utwardzanie pod wpływem promieniowania UV
Technologia | MS-DWS 650 or 850 nm |
Grubość filmu | 5 µm – 3mm |
Ilość jednoczesnych pomiarów | 1 do 4 |
Temperatura | RT |
Czas pomiaru | Od sekund do dni |
Automatyczna aplikacja | Kompatybilny z automatyczną powlekarką |
Wymiary | 70 x 60 x 62 cm |
Waga | 45kg |
- zastosowanie technologii MS- DWS czyni Rheolaser COATING najbardziej czułym i dokładnym instrumentem do wyznaczania własności schnięcia powłok.
- urządzenie pracuje w temperaturze pokojowe, ale może być używany w wyższych temperaturach – do o 60°C (cieplarka).
- otwarta konfiguracja pozwala na użycie Rheolaser COATING z powlekarką automatyczną aby precyzyjnie kontrolować grubość powłoki i stolikiem próżniowym, kiedy mierzymy prędkość schnięcia na papierze
(uniemożliwia przesuwanie papieru w czasie pomiaru).
- możliwość analizowania:
– różnorodnych próbek (farby, lakiery, kleje, żywice…)
– o różnorodnym składzie (na bazie wody, rozpuszczalnika)
– na dowolnym podłożu (metal, plastik, szkło, drewno, beton..)
- łatwość i prostota pomiaru:
– umieść podłoże na płycie pod promieniem lasera
– nałóż produkt
– rozpocznij pomiar