Detektor rentgenowski sCMOS o wysokiej rozdzielczości
W wielu eksperymentach nie ma możliwości umieszczenia próbki w pobliżu źródła promieniowania rentgenowskiego. Nieporęczne stoliki do badań in situ, komory środowiskowe oraz duże próbki powodują, że odległość robocza jest stała, a powiększenie geometryczne nie zapewnia wymaganego poziomu szczegółowości. Opcja detektora sCMOS o wysokiej rozdzielczości dla UniTOM® HR 2 została zaprojektowana tak, aby zachować wysoką rozdzielczość nawet przy dużych odległościach roboczych. Wysoce czuły czujnik CMOS o małych pikselach umożliwia obrazowanie w skali poniżej mikrona próbek nawet 10 razy większych.
Jest to szczególnie ważne, gdy nie można przyciąć próbki, aby „dopasować ją do potrzeb”. Przycinanie próbki w celu poprawy rozdzielczości może zniszczyć kontekst i doprowadzić do błędnych interpretacji uzyskanych wyników, zwłaszcza w badaniach wieloetapowych lub zależnych od czasu. W eksperymentach in situ detektor sCMOS o wysokiej rozdzielczości umożliwia obrazowanie w skali sub-mikronowej w ramach układu eksperymentalnego, co pozwala zachować ciągłość eksperymentu i zapewnić, że dane pozostają powiązane z rzeczywistymi warunkami.
Kontrast przy niskim tłumieniu stanowi kolejne, powszechne wyzwanie w zaawansowanych procesach tomografii komputerowej. Tkanki miękkie, polimery i kompozyty z włókna węglowego mogą wyglądać na wyblakłe na standardowych detektorach płaskich. Czujnik sCMOS poprawia kontrast i redukuje szumy w przypadku materiałów o niskiej gęstości, pomagając w rozróżnianiu subtelnych granic i cech, które mogą być trudne do uchwycenia na standardowych detektorach płaskich.
Detektor sCMOS o wysokiej rozdzielczości został zaprojektowany z myślą o zautomatyzowanych, wieloskalowych procesach. W systemie mikrotomografii wyposażonym w funkcjonalność zmiany analizowanej objętości i detektorów jest on detektorem „analizy szczegółowej” o wysokiej rozdzielczości, który może być użyty po skanie przeglądowym lub szybkiej sekwencji dynamicznej, bez konieczności przemieszczania próbki. System VOIS umożliwia wybranie obszaru z objętości przeglądowej i automatyczne przestawienie pozycji w celu wykonania ukierunkowanego skanu uzupełniającego o wyższej rozdzielczości przy pomocy detektora sCMOS.
