Skaningowa mikroskopia elektronowa

Skaningowy mikroskop elektronowy

Skaningowy mikroskop elektronowy jest doskonałym narzędziem w analizie własności różnorodnych materiałów. Ta metoda obrazowania umożliwia uzyskiwanie wysokorozdzielczych obrazów obiektów o rozmiarach w zakresie mikrometrów i nanometrów. Mikroskopia elektronowa w stosunku do innych metod (np. mikroskopii optycznej) posiada szereg zalet związanych z tym, że obrazowanie charakteryzuje się dużą głębią ostrości i wysoką rozdzielczością a także możliwością równoczesnej analizy niektórych własności fizyko-chemicznych obserwowanych próbek.

Rodzaje mikroskopów elektronowych

Klasyczne skaningowe mikroskopy elektronowe wyposażone w źródło elektronów zawierające katodę wolframową.
Mikroskopy te umożliwiają obserwację obiektów o średnicy rzędu kilku nanometrów (około 3-3.5 nm). Są to urządzenia stosowane między innymi w kontroli jakości oraz pracach badawczo-rozwojowych związanych z analizą typowych własności materiałów.
Mikroskopy wysokorozdzielcze wyposażone w źródło elektronów w postaci emitera polowego (FEG-SEM).
Urządzenia te pozwalają obserwować obiekty o rozmiarach nawet poniżej 1 nm (0.7-1.2 nm). Mikroskopy te stosuje się w szczególnie wymagających aplikacjach, w których analizie poddaje się nanomateriały, próbki wrażliwe na oddziaływanie wiązki elektronowej itp.
Zintegrowane systemy analityczne wykorzystujące jako bazę skaningowe mikroskopy elektronowe: SEM-FIB, SEM-RAMAN, SEM-TOFSIMS, SEM-AFM/SPM itp.

Najważniejsze możliwości skaningowej mikroskopii elektronowej

Precyzyjna obserwacja topografii powierzchni przy powiększeniach od kilku do nawet kilku milionów razy z możliwością rozróżniania obiektów o średnicach poniżej 1 nm;
Duża głębia ostrości, dzięki której możliwa jest ocena chropowatości, rozwinięcia powierzchni oraz obrazowanie 3D przy wysokich powiększeniach;
Analiza morfologiczna – ocena kształtu, wielkości i dystrybucji elementów tworzących materiał: ziarna, wtrącenia, fazy (obszary o podobnym składzie chemicznym);
Analiza składu chemicznego – rozróżnianie pierwiastków i faz, z których składa się badany materiał;
Możliwość analizy własności struktur krystalicznych badanych materiałów: kształt i wielkość komórki pierwotnej, obserwacja dyslokacji, wyznaczanie granic ziaren;
Możliwość modyfikacji powierzchni poprzez jej selektywne trawienie i modyfikację przy pomocy wiązki elektronów lub jonów;

Nasi partnerzy

Jesteśmy od prawie 20 lat autoryzowanym partnerem firmy TESCAN zlokalizowanej w Brnie (Republika Czeska), która jest producentem skaningowych mikroskopów elektronowych i zaawansowanych systemów na bazie SEM dostarczanych i instalowanych na całym świecie.

Od początku swego istnienia TESCAN z roku na rok zwiększa produkcję oraz zdobywa kolejne rynki. Dobra opinia o mikroskopach TESCAN pochodząca od ich Użytkowników sprawia, że jest to marka rozpoznawana i ceniona.