Preparatyka próbek
Bardzo ważnym a czasem nawet kluczowym etapem obserwacji próbek przy pomocy skaningowych i transmisyjnych mikroskopów elektronowych jest właściwe przygotowanie próbki. Oferujemy rozwiązania, które pozwalają na przygotowanie próbek poprzez pokrycie ich warstwą przewodzącą aby możliwe było wysokorozdzielcze (SEM i TEM) obrazowanie struktury materiałów, które nie przewodzą prądu elektrycznego. Systemy polerowania jonowego, które w zależności od konfiguracji mogą służyć do przygotowania próbek miękkich czy też wielofazowych (o zróżnicowanej gęstości) np. dla potrzeb analiz EBSD czy rutynowych obserwacji SEM. Urządzenia z wiązką jonową pozwalają także na finalne pocienianie próbek w celu uzyskania bardzo cienkiej folii, którą możemy prześwietlić wiązką elektronów w mikroskopie TEM. Z kolei systemy plazmowego czyszczenia i modyfikacji powierzchni są często niezbędnym wyposażeniem w laboratoriach badawczych i kontroli jakości gdzie konieczne jest wstępne oczyszczenie lub odpowiednie przygotowanie powierzchni.
