-
Aparatura naukowo-badawcza i kontrolno-pomiarowa
Aparatura naukowo-badawcza i kontrolno-pomiarowa
Urządzenia do jonowego polerowania/ ścieniania są doskonałym narzędziem do przygotowywania próbek do dalszych badań metodami skaningowej i transmisyjnej mikroskopii elektronowej. Polerowanie jonowe polega na kontrolowanym bombardowaniu powierzchni próbki jonami argonu co powoduje zdejmowanie kolejnych warstw atomowych. W przypadku przygotowania próbek dla skaningowej mikroskopii elektronowej możliwe jest usunięcie zdeformowanej (np. w wyniku wcześniejszego polerowania mechanicznego) czy też utlenionej warstwy wierzchniej co pozwala poprawić jakości zdjęć struktury materiałów. Jest to szczególnie istotne w przypadku przygotowywania zgładów metalograficznych przeznaczonych do analiz EBSD (Electron Backscatter Diffraction). Dodatkowo systemy polerowania jonowego pozwalają na przygotowywanie przekrojów poprzecznych materiałów metalicznych, ceramicznych i polimerów. Najważniejszą zaletą polerowania jonowego jest jego równomierność (ze zbliżoną intensywnością wybijane są atomy pierwiastków o różnej gęstości) co umożliwia przygotowywanie powierzchni materiałów trudnych do polerowania innymi metodami – np. materiałów miękkich, wielofazowych, kompozytów polimerowych i metal-ceramika.
W transmisyjnej mikroskopii elektronowej dzięki ścienianiu jonowemu możliwe jest uzyskanie cienkiej próbki o grubości odpowiedniej do tego aby możliwe było prześwietlenie jej elektronami. Zaletą tej metody jest możliwość stosowania jej do materiałów nieprzewodzących i o zróżnicowanych własnościach fizykochemicznych.
Naszym partnerem w dziedzinie polerowania jonowego jest firma Technoorg LINDA, która została założona w 1990 roku przez grupę naukowców i osób powiązanych z Instytutem Badawczym Fizyki Technicznej Węgierskiej Akademii Nauk w Budapeszcie. Produkty firmy to urządzenia do jonowego polerowania próbek dla skaningowej mikroskopii elektronowej oraz przygotowywania próbek dla mikroskopii TEM. Technoorg Linda zawsze zwraca uwagę na zaspokajanie najwyższych potrzeb świata nauki i jest liderem w poszukiwaniu nowych rozwiązań. Po ponad 25 latach doświadczenia i ciągłego rozwoju produkty Technoorg Linda reprezentują wyjątkową jakość. Ze względu na ich specjalną konstrukcję, każde urządzenie absolutnie spełnia oczekiwania klientów i charakteryzuje się niezawodnością i łatwą obsługą. Firma realizuje projekty badawcze finansowane z funduszy UE dla przedsiębiorstw inwestujących w badania i rozwój a w 2023 roku została wyróżniona prestiżową nagrodą Hungarian Innovation Awards za system polerowania jonowego nowej generacji.
W celu uzyskania odpowiedniej jakości obrazu struktury materiału, próbki przygotowuje się poprzez usunięcie z ich powierzchni warstwy tlenków, deformacji i innych pozostałości np. związanych z procesem pobierania próbki. Najczęściej pierwszy etap przygotowania polega na mechanicznym szlifowaniu i polerowaniu powierzchni co niestety może się wiązać z wprowadzeniem deformacji a dodatkowo pojawia się ryzyko pozostawienia na powierzchni cząstek z narzędzi ściernych użytych w procesie szlifowania. Z tego powodu polerowanie jonowe daje bardzo dobre efekty ponieważ pozwala usunąć artefakty szlifowania mechanicznego. Dodatkowo polerowanie jonowe jest bardzo równomierne w porównaniu do polerowania mechanicznego co pozwala uniknąć efektu szybszego usuwania faz o niskiej gęstości, który prowadzić to tworzenia się zagłębień a nawet otworów na powierzchni. Polerowanie jonowe okazuje się być jedną z najlepszych technik przygotowania próbek dla analiz EBSD. W przypadku niektórych materiałów polerowanie jonowe jest jedyną metodą przygotowania powierzchni do analizy EBSD.
Wysokiej jakości przygotowanie próbek dla aplikacji SEM
Jonowe działo niskoenergetyczne do montażu w komorze mikroskopu / systemu FIB
Dokładne co do mikrona pozycjonowanie próbek SEM do przygotowywania przekrojów poprzecznych
Koszt usługi zależy od rodzaju materiału oraz złożoności zadania. Skontaktuj się z nami aby otrzymać ofertę.
Ze względu na konieczność uzyskania efektu transmisji elektronów próbki TEM muszą być bardzo cienkie (zwykle poniżej 150 nm ), a w przypadkach, gdy wymagane jest obrazowanie o wysokiej rozdzielczości, poniżej 30 nm. Aby uzyskać tak cienkie próbki przygotowanie odbywa się zwykle w kilku krokach: Wycinanie próbki o grubości poniżej 0.5 mm z litego materiału, obróbka mechaniczna i szlifowanie aby uzyskać grubość rzędu 80 mikrometrów a następnie finalne ścienianie realizowane elektrochemicznie lub wiązką jonów.
W pełni automatyczny system do ścieniania jonowego do przygotowywania próbek dla TEM i XTEM
Urządzenie do finalnego polerowania i czyszczenia
Precyzyjna piła do wycinania próbek, stacja przyklejania oraz urządzenie do szlifowania próbek
Koszt usługi zależy od rodzaju materiału oraz złożoności zadania. Skontaktuj się z nami aby otrzymać ofertę