Precyzyjne pozycjonowanie próbki jest niezbędne dla uzyskania wysokiej jakości przekrojów poprzecznych metodą polerowania jonowego. Dokładne pozycjonowanie próbki staje się szczególnie ważne podczas badania specyficznych próbek (np. folii separatora akumulatora litowo-jonowego) lub gdy zależy nam na zbadaniu określonego obszaru zainteresowania w próbce (istotne np. w technologiach półprzewodnikowych). Tak precyzyjna regulacja jest niemożliwa w przypadku konwencjonalnych mikroskopów bez dedykowanych narzędzi i zaawansowanych funkcjonalności.
Firma Technoorg zaprojektowała dedykowany system Sample Alignment Station (SAS), który został całkowicie zoptymalizowany do pozycjonowania próbek z dokładnością ±1 µm. Uchwyt oraz stolik są kompatybilne z systemem automatycznego polerowania i innymi urządzeniami Technoorg.