SEMPREP SMART

SEMPREP SMART jest innowacyjnym narzędziem do przygotowywania próbek dla aplikacji SEM. Urządzenie wykorzystuje metodę polerowania jonowego w celu oczyszczenia i poprawienia jakości mechanicznie wypolerowanych próbek SEM oraz przygotowania wolnej od uszkodzeń powierzchni do analizy EBSD. SMART jest również odpowiedni do szybkiego cięcia przekrojowego. Użytkownik może uzyskać doskonałe rezultaty nawet w przypadkach wymagających wysokiej precyzji procesów takich jak testowanie półprzewodników lub badanie przekrojów membran separatorów akumulatorów litowo-jonowych.

Najważniejsze funkcje

Zaawansowana elektronika i pełna automatyzacja

Wysokoenergetyczne działo jonowe 16 keV w standardowej konfiguracji oraz opcjonalne działo o niskiej energii

Nowe, przyjazne dla użytkownika oprogramowanie

Precyzyjny zawór umożliwiający dokładną regulację przepływu gazu

Kamera cyfrowa o wysokiej rozdzielczości umożliwiająca obserwację próbki podczas działania

Chłodzenie przy pomocy wydajnego układu Peltier’a. Opcjonalnie dostępny, nowy system chłodzenia ciekłym azotem

Zautomatyzowany, wspierany przez AI moduł receptur w celu uzyskania najlepszych wyników

Specyfikacja

Źródło Jonów: Wysokoenergetyczne działo jonowe o energii do 16 keV.
Wielkość Próbki: Uchwyty do przekrojów poprzecznych (dostępne wersje 30 i 90 stopni):
- Uchwyt 30°: maks. 16,4 mm (dł.) x 16 mm (szer.) x 3,1 mm (grubość);
- Uchwyt 90°: maks. 18,6 mm (dł.) x 16 mm (szer.) x 6 mm (grubość)

Uchwyt próbki do polerowania powierzchni (EBSD) z trzema różnymi typami głowic:
- Typ głowicy płaskiej: maks. Ø50 mm x 4 mm
- Typ standardowy: maks. Ø32 mm x 15 mm
- Typ drążony: maks. Ø25 mm x 23 mm

Możliwość ruchu stolika: Pochylanie, obrót, oscylacja.
Chłodzenie próbki: Wydajny układ Peltier’a lub opcjonalnie chłodzenie ciekłym azotem.

SEMPREP SMART

Najważniejsze funkcje

Specyfikacja

Skontaktuj się z nami:

Znajdź nas

Kontakt