INDUSEM - mikroskop dla przemysłu

Tescan, INDUSEM

Mikroskop ten powstał z myślą o użytkownikach z przemysłowych laboratoriów kontroli jakości. Mikroskop oferuje szereg własności, które potrzebne są w zastosowaniach przemysłowych: zwarta obudowa, możliwość łatwego i szybkiego przemieszczania, komora umożliwiająca obserwację dużych i ciężkich próbek, intuicyjny interfejs obsługi mikroskopu, automatyzacja prawie wszytskich procedur obsługi i kontroli urządzenia.
Mikroskop został zbudowany na bazie trzeciej generacji mikroskopu VEGA XM. Jest to kompaktowe, łatwe w transporcie urządzenie, wyposażone  komorę o rozmiarze XL, która umożliwia badanie próbek wo szerokim zakresie wielkości. Jest to idealne narzędzie w kontroli jakości lub szybkiej analizie przyczyn błędów produktu końcowego w zakładzie produkcyjnym.

Cechy charakterystyczne mikroskopu INDUSEM:

Własności praktyczne:

  • Zwarta konstrukcja plus podwozie z kołowami do szybkiego transportu
  • Bardzo duża komora z solidnym stolikiem, który jest w stanie pomieścić duże i ciężkie próbki
  • System zmiennej próżni umożliwia badanie różnorodnych próbek, w tym również materiałów nieprzewodzących
  • Łatwy w użyciu ekran dotykowy z interfejsem kontrolnym do rutynowej obsługi urządzenia
  • Aktywny system izolacji drgań podłoża zapewnia doskonałe parametry obrazowania także w trudnych warunkach eksploatacji

Unikalna optyka elektronowa:

  • Unikalny, cztero-soczewkowy układ elektronooptyczny (Wide Field Optics™) umożliwia uzyskiwanie różnych trybów pracy optyki oraz obrazowania niedostępnych w innych mikroskopach: praca z niskimi powiększeniami (od 1x), obserwacja dużych obszarów próbek bez konieczności ruchu stolika, obrazowanie z dodatkowo rozszerzoną głębią ostrości, możliwość pochylania wiązki elektronowej w celu uzyskiwania obrazów 3D.
  • Specjalna soczewka pośrednia (Intermediate Lens - IML) pozwala na płynne, kontrolowane elektromagnetycznie, regulowanie apertury wiązki elektronowej.
  • Użycie najnowszych materiałów zastosowanyuch w soczewkach oraz cewkach pozwala na ultra-szybką prędkość skanowania wynoszącą poniżej 20 ns na piksel przy minimalizacji efektów zniekształceń dynamicznych.
  • Algorytm kontroli wiązki In-Flight Beam TracingTM zapewnia łatwą optymalizację parametrów wiązki elektronowej dla wybranego powiększenia i napięcia przyspieszającego. Umożliwia precyzyjną, automatyczną kontrolę i regulację prądu próbki oraz średnicy wiązki.
  • Unikalna konstrukcja kolumny mikroskopu - bez jakichkolwiek mechanicznie centrowanych elementów - pozwala na w pełni automatyczne centrowanie elementów kolumny.

Potencjał analityczny:

  • Najwyższej klasy detektory z kryształem YAG
  • Szeroki wybór opcjonalnych detektorów i akcesoriów
  • Porty do instalacji dodatkowych akcesoriów w komorze są zoptymalizowane dla potrzeb instalacji dodatkowych akcesoriów analitycznych (EDS, WDS, EBSD).
  • Próżnia robocza uzyskiwana w ciągu kilku minut, dzięki zastosowaniu układu próżniowego zawierającego pompę turbomolekularną i rotacyjną.

Zautomatyzowane procedury:

  • Konstrukcja systemu zawiera pełne oprogramowanie kontrolne i nie wymaga żadnych mechanicznej regulacji.
  • Opcjonalnie można rozszerzyć oprogramowanie o moduł automatycznej analizy cząstek na dużych obszarach obserwacji
  • Wbudowany język skryptowy (Python) umożliwia dostęp do większości funkcji oprogramowania, w tym pełną kontrolę mikroskopu, kontrolę stolika, akwizycję obrazu oraz jego przetwarzanie i analizę. Wbudowany skrypt umożliwia użytkownikom definiowanie własnych automatycznych procedur.